whatsapp: 0086-15153112822
လျှပ်စစ်သင်တန်းပစ္စည်းကိရိယာများ

အီလက်ထရောနစ်ဖြစ်စဉ်နည်းပညာသင်ကြားသူ Didactic Equipment လျှပ်စစ်အင်ဂျင်နီယာသင်တန်းပစ္စည်းကိရိယာ

ပစ္စည်းအမှတ်: ZE3316
အီလက်ထရောနစ်ဖြစ်စဉ်နည်းပညာသင်ကြားသူ Didactic Equipment လျှပ်စစ်အင်ဂျင်နီယာသင်တန်းပစ္စည်းကိရိယာ
တောင်းခံချက်
ဖော်ပြချက်
ZE3316 အီလက်ထရောနစ်ဖြစ်စဉ်နည်းပညာသင်တန်းနည်းပြဆရာ၊

1 ကုန်ပစ္စည်းခြုံငုံသုံးသပ်ချက်
1-1 ခြုံငုံသုံးသပ်ချက်
၁။ ဒီထုတ်ကုန်သည်ဒီဂျစ်တယ်ဆားကစ်နှင့် analog circuit လေ့ကျင့်ရေးစနစ်ကိုပေါင်းစပ်ထားပြီး၎င်းသည် analog circuit နှင့်သက်ဆိုင်သောစမ်းသပ်မှုနှင့် digital circuit test တို့ကိုလုပ်ဆောင်နိုင်သည်။
၂။ ဤထုတ်ကုန်အားလျှပ်စစ်ဓာတ်အားပေးစနစ်၊ AC အနိမ့်ဗို့အား၊ ကြိမ်နှုန်းဂျင်နရေတာ၊ အသံချဲ့စက်၊ ဘက်စုံသုံး၊ ဗို့အားထိန်းညှိစသည်တို့ဖြင့်ဒီဇိုင်းပြုလုပ်ထားသည်။
1-2 အင်္ဂါရပ်များ
၁။ ပစ္စည်းကိရိယာတွင်အထူးပလပ်ဂင်တစ်ခုတပ်ဆင်ထားသည်။ ကျောင်းသားများသည်စမ်းသပ်မှုကိုပြီးဆုံးရန်အတွက်စမ်းသပ်ရန်အတွက်လျင်မြန်စွာတပ်ဆင်ရန်အဆင်ပြေသည်။
2, အမျိုးမျိုးသောအီလက်ထရွန်နစ်အစိတ်အပိုင်းများနှင့်တပ်ဆင်ခြင်းကိရိယာများကိုအသုံးပြုခြင်းအားဖြင့်ကျောင်းသားများ၏စုဝေးမှုနှင့်ပြိုကွဲမှုစွမ်းရည်များကိုသာမက၊ ကျောင်းသားများ၏သင်ရိုးညွှန်းတမ်းဒီဇိုင်း၊ ဘွဲ့ရဒီဇိုင်း၊ ကျွမ်းကျင်မှုယှဉ်ပြိုင်မှုနှင့်အခြားအလယ်တန်းဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်မှုစွမ်းရည်များကိုလည်းလေ့ကျင့်နိုင်သည်။


2 စွမ်းဆောင်ရည် parameters တွေကို
(1) Input ပါဝါ: သုံးအဆင့်ငါးဝါယာကြိုးစနစ်က 380V ± 10% 60Hz
(2) အရွယ်အစား: 1300mm × 650mm × 1500mm
(3) စက်စွမ်းရည်: <2KVA
(၄) အလေးချိန် - <၂၅၀ ကီလိုဂရမ်
(၅) အလုပ်လုပ်သည့်အခြေအနေများ - ပတ်ဝန်းကျင်အပူချိန် -10 ° C မှ +40 ° C ဆွေမျိုးစိုထိုင်းဆ <85% (25 ° C)


3 စမ်းသပ်စာရင်း
ဒီဂျစ်တယ်ဆားကစ်အပိုင်း
စမ်းသပ်မှု 1 Transistor switching ဝိသေသလက္ခဏာများ, Limiter နှင့် Clamp
စမ်းသပ်မှု 2 Logic function ကိုနှင့် TTL ဘက်ပေါင်းစုံယုတ္တိဗေဒတံခါးဝ၏ parameter သည်စမ်းသပ်မှု
CMOS ကိုပေါင်းစပ်ထားသောယုတ္တိဗေဒဂိတ်၏စမ်းသပ်မှု ၃ Logic function နှင့် parameter စမ်းသပ်မှု
Integrated Logic Circuit များ၏စမ်းသပ်မှု ၄ ဆက်သွယ်မှုနှင့်မောင်းနှင်မှု
စမ်းသပ်မှု 5 ဒီဇိုင်းနှင့် combinatorial ယုတ္တိဗေဒ circuit ကို၏စမ်းသပ်မှု
စမ်းသပ်ချက် 6 ဒီကုဒ်ဒါနှင့်၎င်း၏လျှောက်လွှာ
စမ်းသပ်ချက် 7 ဒေတာရွေးချယ်သူနှင့်၎င်း၏လျှောက်လွှာ
စမ်းသပ်မှု 8 အစပျိုးနှင့်၎င်း၏လျှောက်လွှာ
စမ်းသပ်ချက် 9 ကောင်တာနှင့်၎င်း၏လျှောက်လွှာ
စမ်းသပ်မှု 10 Shift မှတ်ပုံတင်နှင့်၎င်း၏လျှောက်လွှာ
စမ်းသပ်မှု 11 Pulse ဖြန့်ဖြူးနှင့်၎င်း၏လျှောက်လွှာ
စမ်းသပ်မှု ၁၂။ Pulse signal ကို generate လုပ်ရန် - gate circuit ကို အသုံးပြု၍၊
စမ်းသပ်မှု 13 Monostable အစပျိုးခြင်းနှင့် Schmitt အစပျိုး --- Pulse နှောင့်နှေးခြင်းနှင့် Waveform ကိုပုံဖော်တိုက်နယ်
စမ်းသပ်မှု 14 555 အချိန်အခြေစိုက်စခန်း circuit ကိုနှင့်၎င်း၏လျှောက်လွှာ
စမ်းသပ်မှု 15: D / A ။ A / D ကိုပြောင်းစက်
အီလက်ထရောနစ်နာရီမှတ်တိုင် ၁၇ ကိုစမ်းသပ်ပါ
စမ်းသပ်မှု 18 3-bit DC ဒီဂျစ်တယ် voltmeter
စမ်းသပ် 19 ဒီဂျစ်တယ်ကြိမ်နှုန်းမီတာ
analog အီလက်ထရောနစ် tester
လေ့အသုံးပြုသောအီလက်ထရောနစ်တူရိယာများစမ်းသပ်မှု ၁
diode ၏စမ်းသပ်မှု 2 ရိုးရှင်းသောစမ်းသပ်မှု
ကြည်လင် triode ၏ input ကိုနှင့် output ကိုဝိသေသလက္ခဏာများ၏စမ်းသပ်မှု 3 စမ်းသပ်မှု
စမ်းသပ်မှု 4 Single- ဇာတ်စင်အသံချဲ့စက် circuit ကို
စမ်းသပ်မှု 5 Two- ဇာတ်စင် amplification circuit ကို
စမ်းသပ်မှု 6 အနုတ်လက္ခဏာတုံ့ပြန်ချက်အသံချဲ့စက် circuit ကို
7 ထုတ်လွှတ်နောက်လိုက်စမ်းသပ်
စမ်းသပ်မှု 8 Differential Amplifying တိုက်နယ်
စမ်းသပ်မှု 9 FET အသံချဲ့စက်
စမ်းသပ်မှု 10 RC sine လှိုင်းလှိုဆားကစ်
စမ်းသပ်မှု 11 LC လှိုနှင့်အကြိမ်ရေရွေးချယ်အသံချဲ့စက်
ဘက်ပေါင်းစုံလည်ပတ်မှုအသံချဲ့စက်၏စမ်းသပ်မှု 12 အခြေခံ parameter သည်စမ်းသပ်မှု
စမ်းသပ်မှု 13 ပေါင်းစည်းစစ်ဆင်ရေး Amplitude အချိုးအစားစစ်ဆင်ရေးတိုက်နယ်
စမ်းသပ်ချက် 14 ပေါင်းစည်းမှုနှင့်ပေါင်းစည်းထားသော op amps ၏ differential ကိုဆားကစ်
Integrated Op Amp ၏စမ်းသပ်မှု 15 ဗို့အားနှိုင်းယှဉ်တိုက်နယ်
စမ်းသပ်မှု 16 Waveform Generator ကို
စမ်းသပ်မှု 17 Active Filter
စမ်းသပ်မှု 18 ပေါင်းစည်းပါဝါ Amplifier
စမ်းသပ် 19 ဖြည့်စွတ်အချိုးကျပါဝါ Amplifier
စမ်းသပ် 20 ပေါင်းစည်းဗို့အား Regulator
စမ်းသပ်မှု ၂၁ စီးရီးဗို့အားထိန်းညှိသောနေရာ
စမ်းသပ်မှု ၂၂: Thyristor ကွပ်ကဲသော rectifier ဆားကစ်